本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行量子效率測試的系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

基本規(guī)格

(1) 測試樣品及環(huán)境

(a) 樣品：粉狀樣品

(2) 儀器的功能

(a) 激發(fā)熒光樣品，對熒光光譜進(jìn)行測試。

(b) 為了消除積分球內(nèi)反射的激發(fā)光而激發(fā)的熒光，配有“再激發(fā)修正”功能。

(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。

(d) 樣品設(shè)置采用手動(dòng)方式。

(e) 可實(shí)現(xiàn)控溫和量子效率測試同步進(jìn)行的功能。

(3) 儀器的構(gòu)成

(a) 暗箱內(nèi)部置有積分球光學(xué)系統(tǒng)。

(4) 溫控單元

(a) 50 ℃～300℃(cell部分)

(b) 采用加熱器加熱、風(fēng)冷制冷。

(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環(huán)、斷熱。

(d) 控制用溫度探頭是一個(gè)具備獨(dú)立的防止過度升溫的溫度探頭。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

 積分全球/半球 ，在遭受到強(qiáng)大的沖擊力后有可能會(huì)產(chǎn)生變形甚至損壞。對于這種情況，我司將不承擔(dān)責(zé)任。積分半球的內(nèi)側(cè)涂有硫酸i鋇或者是Spectralon，受到污染后如需要交換可與我司聯(lián)系。貨期大約為1.5個(gè)月左右。