偏光鏡檢術的方式及要求

（1）正相鏡檢（Orthscope）：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens），被研究對象可直接用偏振光研究。同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。

（2）錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢，研究在偏振光干涉時產生的干涉圖樣，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。在該方法中，用強會聚偏振光束照明。

（1）載物臺的中心與光軸同軸。

（2）起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。

（3）制片不宜過薄。

高倍物鏡的使用注意事項

1．偏光顯微鏡用低倍物鏡時，應將錐光鏡移出光路。用高倍物鏡及觀察錐光圖時，必須將錐光鏡轉入光路，并適量調節鎖光圈大小。

2．在高倍物鏡下看錐光圖時才需將勃氏鏡加進光路，并可在照明光源上加毛玻片。在觀察微小礦物時，應在光路中加入小孔光欄。

3．當用人工照明光源時，可在下偏光鏡下加藍色濾，以使視場亮度色調均勻。

4．薄片置于物臺上時，薄片蓋玻片必須向上，并用彈簧夾夾住薄片。

5．當使用高倍物鏡觀察時，一般都先用低倍物鏡來尋找目標，并使觀察目標移向視場中心，然后更換上高倍物鏡。調換時，應將鏡筒升高使物鏡離開切片，這樣可避免因物鏡碰到切片而使切片走動。同時應注意不使物鏡調節螺絲走動。

6．在使用過程中必須注意：要先旋轉微動手輪，使微動處于中間位置，再轉動粗調手輪，將鏡筒下降使物鏡靠近切片(從側面觀察)。然后在觀察切片的同時再慢慢上升鏡筒至看清礦物象為止，這樣可避免物鏡與切片相互碰撞而壓壞切片和損壞鏡頭。

7．粗調手輪如發現太松或太緊時，用手握緊一只粗調手輪，轉動另一只手輪做適當地調節。

偏光顯微鏡的用途該產品采用無限遠校正光學系統

偏光顯微鏡的用途

該產品采用無限遠校正光學系統，具有大視野、成像質量高、透射照明與垂直照明系統、功能等特點；產品采用高鋼性主體，充分滿足顯微操作的防震要求；可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應用于地質、化工、、藥品等領域的研究與檢驗；也可進行液態高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機構與高等院校進行研究與教學的理想儀器；可依據客戶需求升級為數碼顯微攝像。